17.180.01 Оптика и оптические измерения в целом

• ГОСТ 8.023-2014 — Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений световых величин непрерывного и импульсного излучений
• ГОСТ 8.557-2007 — Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений спектральных, интегральных и редуцированных коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн от 0,2 до 50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм
• ГОСТ Р 58373-2019 — Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Термины и определения
• ГОСТ Р 58565-2019 — Оптика и фотоника. Дифракционная оптика. Термины и определения
• ГОСТ Р 70039-2022 — Оптика и фотоника. Характеристики оптических систем. Термины и определения
• ГОСТ Р 70973-2023 — Оптика и фотоника. Оптика физическая. Термины, определения и буквенные обозначения основных величин
• ГОСТ Р 71323-2024 — Оптика и фотоника. Величины ультрафиолетового излучения эффективные. Термины, определения и буквенные обозначения
• ГОСТ Р 71355-2024 — Оптика офтальмологическая. Линзы контактные. Часть 3. Методы измерений
• ГОСТ Р 71571-2024 — Оптика и фотоника. Детали оптические. Типовой технологический процесс нанесения диэлектрических многослойных отражающих и светоделительных покрытий
• ГОСТ Р 71606-2024 — Оптика и фотоника. Материалы оптические. Методы определения оптической однородности
• ГОСТ Р 71607-2024 — Оптика и фотоника. Объективы для оптико-электронных систем. Методы измерений рабочего и заднего отрезков
• ГОСТ Р 8.749-2011 — Государственная система обеспечения единства измерений. Светодиоды. Методы измерения фотометрических характеристик
• ГОСТ Р 8.827-2013 — Государственная система обеспечения единства измерений. Метод измерения и определения индекса цветопередачи источников излучения
• ГОСТ Р 8.828-2013 — Государственная система обеспечения единства измерений. Спектральный коэффициент диффузного отражения элементов фотовольтаики и солнечных коллекторов при углах падения излучения от 5° до 85°. Методика измерений
• ГОСТ Р ИСО 7944-2013 — Оптика и оптические приборы. Эталонные значения длин волн
• ГОСТ Р МЭК 60904-2-2013 — Государственная система обеспечения единства измерений. Приборы фотоэлектрические. Часть 2. Требования к эталонным солнечным приборам